Mikroprozessorsysteme: Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz | Cover
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Mikroprozessorsysteme: Zuverlässigkeit, Testverfahren, Fehlertoleranz [paperback]

von: Rolf Hedtke


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ISBN: 3540129960, EAN: 9783540129967

paperback: 216 Seiten

Verlag: Springer-Verlag

Erscheinungsjahr: 1984

Größe: 24,1 cm x 16,5 cm x 1,3 cm

Gewicht: 410 g